型号 | FT-331 | 加工定制 | 是 |
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外形尺寸 | 121mm | 重量 | 12Kg |
产品用途 | 普通四探针电阻率方阻测试仪 | 规格 | 1台 |
方块电阻范围 | 10-5~2×105Ω/□ | 电阻率范围 | 10-6~2×106Ω-cm |
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
二.参照标准:
硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
三.适用范围:
适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用AD芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表
用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品
四.型号及参数
规格型model | FT-331 |
1.方块电阻范围Sheet resistance | 10-5~2×105Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10-6~2×106Ω-cm |
测试电流范围 | 0.1μA ,1μA,10μA,100 内容声明:
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